Расчет надежности схемы

Данное устройство содержит большое количество элементов и соединений, которые потенциально могут оказаться причиной отказа всего устройства в целом. Поэтому необходимо рассчитать надежность устройства, учитывая все эти элементы. Для удобства расчетов все эти элементы сведены в таблицу.

Таблица

п/п

Элементы схемы, подлежащие расчету

Количество, шт.

Значение интенсивности отказов l, 1/ч

1

Германиевые транзисторы

2

0,6·10-6

2

Интегральные микросхемы

1

2,5·10-6

3

Керамические монолитные конденсаторы

9

0,44·10-6

4

Контактные площадки

178

0,02·10-6

5

Кремниевые диоды

2

2,5·10-6

6

Кремниевые транзисторы

7

0,3·10-6

7

Металлодиэлектрические резисто­ры

30

0,04·10-6

8

Отверстия

197

0,0001·10-6

9

Пайки

178

1·10-6

10

Переменные пленочные резисторы

3

4·10-6

11

Печатная плата

1

0,0005·10-8

12

Пленочные подстроечные резис­то­ры

1

2·10-6

13

Проводники

68

0,005·10-6

14

Разъемы

2

2,5·10-6

15

Электролитические конденсаторы

14

1,1·10-6

Интенсивность отказов всей схемы можно рассчитать по формуле:

L=åln·Nn

где - L - интенсивность отказов всей схемы.

ln - интенсивность отказов элементов схемы.

N - количество элементов схемы.

L=l1·N1+l2·N2+l3·N3+l4·N4+l5·N5+l6·N6+l7·N7+l8·N8+l9·N9+l10·N10+l11·N11+l12··N12+l13·N13+l14·N14+l15·N15=0,6·10-6·2+2,5·10-6·1+0,44·10-6·9+0,02·10-6·178+ +2,5·10-6·2+0,3·10-6·7+0,04·10-6·30+0,0001·10-6·193+1·10-6·178+4·10-6·3+ +0,0005·10-8·1+2·10-6·1+0,005·10-6·68+2,5·10-6·2+1,1·10-6·14=1,2+2,5+3,96+3,56+5+ +2,1+1,2+0,0193+178+12+0,000005+2+0,34+5+15,4=232,279305·10-6 1/ч.

где l1 - интенсивность отказов германиевых транзисторов

N1 - количество германиевых транзисторов

l2 - интенсивность отказов интегральных микросхем

N2 - количество интегральных микросхем

l3 - интенсивность отказов керамических монолитных конденсаторов

N3 - количество керамических монолитных конденсаторов

Перейти на страницу: 1 2